
电阻测试法-判断整流桥好坏
这是利用二极管的单向导通特性,测试其正向有电阻读值与反向截止无读值来判
断其是否好坏,这套判断方法是很常见的一种。
测试工具与对象:一台正常的万用表与一款待判断的整流桥。
测试测试条件设定:万用表打到20K欧姆档位,红笔万用表正极,黑笔万用表负极。
测试方法与步骤为:红笔接整流桥负极,黑笔分别接两个交流脚位,若均有读值显示则
说明负极与交流之间的两颗芯片正常;黑笔接整流桥正极,红笔分别探测两个交流脚位
,若均有读值显示则表明整流桥正极与交流间的两颗芯片为正常。
测试结果总结:若测试过程中结果反馈如上所述,则表示该整流桥4颗芯片均正常,若
有非一致的情况出现,说明整流桥中该颗芯片已经损坏。


压降测试法-判断整流桥好坏
这是利用万用表二极管档位直接测试整流桥内部二极管芯片的方法,读值为压降
的参考值或者近似值。测试方法与电阻测试法大致类似,也是非常常见的一种整流桥好
坏判断方法。
测试工具与对象:一台万用表与一款待判断的整流桥产品。
测试测试条件设定:万用表打到二极管档位,红笔万用表正极,黑笔万用表负极。
测试方法与步骤为:红笔接整流桥负极,黑笔接整流桥正极,此时测试结果为整个整流
桥的压降参考值;如需分别测试每颗芯片的压降值,则方法为黑笔接整流桥正极,红笔
分别探测两个交流脚位;红笔接整流桥负极,黑笔分别探测两个交流脚位。
测试结果总结:测试结果为该二极管芯片压降的参考值,可以辅助来判断整流桥的通断
与好坏。参照上述步骤测试均为有正常反馈结果,说明该整流桥是好的,如有非一致的
情况出现,说明整流桥中该颗芯片已经损坏。


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