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半导体工艺流程是什么样子的?ASEMI半导体为您详解(一)

发布时间:2016-04-18 14:40 作者:ASEMI--NEYA 浏览:

摘要 : 常有客户来电咨询ASEMI半导体的工艺详细流程是什么样子的?

 

 


 

常有客户来电咨询ASEMI半导体的工艺详细流程是什么样子的?有没有相关的文案可以看下,本节ASEMI半导体特地整理出此文,方便广大客户了解与学习。

 


 

首先要介绍的是关于半导体的相关知识:首先个是本征材料,本征材料也就是本征半导体,是指整体不含杂质且无晶格缺陷的纯净半导体,也就是纯硅;其次个是N型硅,N型硅会掺入Ⅴ族元素--磷、砷、锑;第三个是P型硅,P型硅会掺入Ⅲ族元素--镓、硼;剩下的一个PN结,PN结相信大家都比较熟悉,一块一侧掺杂成P型半导体,另一侧参杂成N型半导体,中间二者相连的接触面称为PN结。

 

那么接下来要讲的就是半导体元件的制造过程,可分为两段。前端制程是晶圆处理制程和晶圆针测制程;后端是构装和测试制程。ASEMI半导体的半导体元件晶圆处理制程都是采用进口晶圆,加辅以进口晶圆扩散仪器进行处理,测试制程更是引进完善KK设备进行一体化测试。

 

 

晶圆的处理制程主要工作是在矽晶圆上制作电路与电子元件,是所有制程中技术特别复杂、资金投入很多的过程,有的晶圆步骤可达数百道。晶圆针测则是在晶圆通过了Wafer Fad之后,晶圆形成一格格小格的状态下,一一通过针测仪器以测试其电气特性,这个时候不合格的晶粒就会在这个环节被标上记号,并且在后续步骤中被舍弃。

 

构装制程是利用塑胶或者陶瓷包装晶粒与配线进行封装,ASEMI半导体在此环节所采用的玻璃钝化工艺进行构装。后续的测试制程就是各个品牌选用不同程度的仪器进行测试,ASEMI半导体所采用的健鼎设备可以一次性测试六个参数,减少了多次测试损坏元器件的几率,大大提高了出厂合格率。